產(chǎn)品[
WBLH-200J 高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計(jì) 日本 型號：WBLH-200J
]資料
產(chǎn)品名稱:
WBLH-200J 高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計(jì) 日本 型號：WBLH-200J
產(chǎn)品型號:
WBLH-200J
產(chǎn)品展商:
國產(chǎn)
產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹
WBLH-200J 高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計(jì) 日本 型號：WBLH-200J 本儀器采用了渦流測厚方法，可*損的測量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導(dǎo)電覆層的厚度（如琺瑯、相交、油漆、塑料等）。內(nèi)置打印機(jī)，可打印數(shù)據(jù)，有四個統(tǒng)計(jì)功能。
WBLH-200J 高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計(jì) 日本 型號：WBLH-200J
的詳細(xì)介紹
高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計(jì) 日本
型號：WBLH-200J |
貨號：ZH6917 |
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產(chǎn)品簡介
本儀器采用了渦流測厚方法，可*損的測量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導(dǎo)電覆層的厚度（如琺瑯、相交、油漆、塑料等）。內(nèi)置打印機(jī)，可打印數(shù)據(jù)，有四個統(tǒng)計(jì)功能。
測定方法:高頻渦流式
測定對象:非磁性金屬上*緣層
測定范圍:電磁式：0～800um或0～32.0mils
測定精度:<50um±1um >50um±2%
分辨率:<100um 0.1um >100um 1um
界限設(shè)定:可設(shè)定上/下限數(shù)值
測試單位:公/英制互換
顯示方式:LCD數(shù)顯
操作面板:密封*水按鍵
附屬品:鐵基體/鋁基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/電池/皮套/說明書
電源:DV3V 主機(jī)5#堿性電池×6個 打印機(jī)5#堿性電池×4個
體積:80(W)×80(D)×30(H)
重量:1100g
http://www.centrwin.com/ProductSearch.aspx?id=6917
WBLH-200J 高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計(jì) 日本 型號：WBLH-200J
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